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紫外-可見-近紅外光譜儀
制冷型EE2063系列
制冷型EE2063系列
制冷型EE2063系列
產品特色
EE 系列光譜儀 是由背照式制冷型CCD感測器(back-thinned TEC sensor),加上高性能32bits RISC微控制器組成,擁有精簡架構及優化之光譜分析核心。
完善的制冷系統設計能降溫25度,有效降低暗雜訊,並提供穩定的低溫環境,適合需要長時間量測之應用。
光學架構能提供十分堅固及穩定的量測性能,尤其是在解析度及波長飄移上有優異的溫濕度、震動、與撞擊穩定性。
微小化設計更是提供了各種系統整合之彈性。
加入詢價
產品規格
產品規格
應用
產品規格
制冷型EE2063系列
光譜範圍
180-1100 nm
制冷
環境溫度25℃ 可降至0℃
感測器
紫外強化CCD
HAMAMATSU
S11850
光學解析度(FWHM)
0.2nm ~ 10nm
快門
皆可選配
訊噪比
500
動態範圍
4000
曝光時間
5 ms~ 65s
光訊息參數及時運算
V
連續高速曝光
V
尺寸 (mm3)
130*96*39.5 mm
應用
背照式CCD,高感度、高SNR (=500)、低熱噪訊
制冷降溫 25℃
「雜散光校正」演算法 (雜散光比例可達0.01%)
SMA905, FC/PC 接頭可選配
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