LED面板量測

突破傳統量測限制,全面掌握光譜與均勻度

在現代光電產業中,μLED (Micro LED) 技術的應用越來越廣泛,然而,傳統的單點式分光輝度量測或影像式 3 刺激值輝度量測方法,僅能測量多點或純影像的灰度值,無法針對 μLED 的光譜特性與均勻度 進行完整分析。這對於 μLED 產業來說,是一個關鍵挑戰。

高光譜相機具備 3D 光譜數據的特性,可同時量測峰波長、色差、輝度等關鍵指標,並透過光譜分析精準掌握 μLED 均勻度分佈。此外,高光譜技術能夠適應多點到全面性均勻度的各種量測需求,並可透過不同鏡頭與光學配置,實現針對單顆 μLED 的精準測量。

方案一:顯微 LED 高光譜量測系統

精確量測 μLED 各項關鍵指標,優化製程開發


該系統採用 x20 物鏡,可放大檢視 手機面板 μLED 陣列中的單顆 LED,並進行以下量測:

 • 主波長、峰波長、半波寬、分光照度

 • 螢光粉層分佈、重疊分析

 • μLED 光學特性與均勻度評估

應用價值

 • 精細數據分析 → 幫助製程開發端進行深入了解,快速定位問題。

 • 優化生產流程 → 提供針對性的解決方案,降低成本,提高產品品質與效率。

 • 支援各種 μLED 應用 → 適用於手機面板、穿戴式裝置、Micro LED 顯示技術等。

技術規格

 • 光譜範圍:400-1000nm

 • 光學解析度:4nm (FWHM)

 • 顯微鏡:Olympus IX73

 • 物鏡:Olympus XAPO x20

方案二:巨觀多點 LED 量測系統

光纖陣列式高效率量測,適用大範圍 LED 面板


此方案採用多條光纖式設計,相當於 N 台光譜儀同步進行量測,可實現:

 • 即時多點分光輝度量測

 • LED 鍍層重疊與其他材料特性分析

 • μLED 光學特性與均勻度評估

應用價值

 • 適合大範圍 LED 面板檢測 → 透過多光纖陣列,快速分析 LED 均勻度。

 • 提升量測產能 → 高速擷取數據,提高檢測效率。

 • 支援光譜演算法分析 → 進一步提高 LED 產品測試精度。

技術規格

 • 光譜範圍:380-800nm

 • 影像感測器:sCMOS Sensor

結論

本方案針對 μLED 與 LED 面板量測需求,提供顯微級高光譜精測 (單顆 μLED 分析) 與巨觀級高效量測 (大範圍 LED 面板測試) 兩種解決方案,滿足現代光電產業對光譜特性與均勻度的全面性量測需求,協助企業提升產品質量,優化製程效率,搶占先進顯示技術市場。


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