太陽能面板量測
SWIR 高光譜技術精準檢測太陽能面板缺陷，提升發電效率
隨著太陽能產業的發展，光伏 (PV) 模組的檢測需求日益提升。傳統的檢測技術在日光環境下難以有效識別隱藏的缺陷，而短波紅外 (SWIR, Short-Wave Infrared) 技術可突破可見光的限制，即使在白天也能進行電致發光 (EL, Electroluminescence) 成像，有效偵測太陽能板內部的隱藏裂縫、微裂紋、焊接缺陷等問題。
本方案採用 Raptor 640 SWIR 相機，可應用於無人機 (Drone) 掃描或地面檢測，確保高效能且精準的太陽能面板檢測。
技術優勢
• 日光環境下的高對比檢測 – SWIR 技術可在白天進行 EL 成像，無需黑暗環境。
• 精準識別微小缺陷 – 可偵測微裂紋、焊接不良、PID (Potential Induced Degradation) 等隱藏性問題。
• 適用無人機檢測 – 可搭載於無人機，遠端掃描大面積太陽能電場，提高檢測效率。
• 非破壞性測試 – 無需拆卸模組，即可快速診斷太陽能板健康狀態。
技術規格
• 相機型號：Raptor 640 SWIR
• 感測器：InGaAs (Indium Gallium Arsenide)
• 波長範圍：900-1700 nm
• 解析度：640 × 512 像素
• 應用場景：地面檢測、無人機掃描、工業自動化檢測
立即查看詳細資訊應用案例
• 材料分類：識別不同類型的黑色布料、橡膠與塑膠，提升工業自動化檢測能力。
• 品質控制：精準檢測產品缺陷，確保製程穩定性與一致性。
• 回收產業：透過高光譜技術區分不同黑色廢棄物，提升資源回收效率。
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